starrett數顯卡尺的使用注意事項，你一定做錯過！
點擊次數：357 更新時間：2023-02-02
starrett數顯卡尺具有多種測量模式、操作容易、耐用、通用性強以及成本較低等諸多優點，可以說是工具箱中常見的量具了。然而，要正確使用卡尺還有很多的注意事項，我們先從影響測量結果的誤差因素講起。
誤差因素
在(zai)使用卡尺(chi)測(ce)量時(shi)(shi)，存(cun)在(zai)著多(duo)種引起(qi)誤差(cha)的(de)(de)因(yin)素(su)，如視差(cha)、結構不符(fu)合阿貝原理引起(qi)的(de)(de)誤差(cha)、卡尺(chi)和工件之間(jian)的(de)(de)溫度差(cha)異引起(qi)的(de)(de)熱膨脹影(ying)響等等。除此以外，因(yin)卡尺(chi)無(wu)定壓裝置，測(ce)量時(shi)(shi)，適合的(de)(de)，均勻的(de)(de)測(ce)力難以把握，也是(shi)產生誤差(cha)的(de)(de)又一(yi)因(yin)素(su)。
卡尺的結構不符合阿貝(bei)原理
starrett數(shu)顯卡尺(chi)的(de)讀數(shu)軸(zhou)和測(ce)量軸(zhou)因(yin)不同軸(zhou)而不符合阿貝原理，所(suo)以在(zai)使用(yong)卡尺(chi)時，用(yong)量爪的(de)根部或尖端進行測(ce)量，會(hui)存在(zai)加(jia)大測(ce)量誤差的(de)危險。測(ce)量時需注意被(bei)測(ce)工件盡可能地接近尺(chi)身部分（讀數(shu)軸(zhou)）。
讀取(qu)刻(ke)度的視差
當檢查游標(biao)刻(ke)度(du)(du)(du)(du)線是否與(yu)主要刻(ke)度(du)(du)(du)(du)分(fen)線對齊時(shi)，直視游標(biao)刻(ke)度(du)(du)(du)(du)線。游標(biao)尺與(yu)主尺刻(ke)度(du)(du)(du)(du)面之間存在著階差(cha)(cha)(cha)高(gao)度(du)(du)(du)(du)，這容易引起讀數誤差(cha)(cha)(cha)。如果從斜方向觀察游標(biao)刻(ke)度(du)(du)(du)(du)線，會產生圖中ΔX所示(shi)誤差(cha)(cha)(cha)。為了避(bi)免這種(zhong)因(yin)素的(de)影響，JIS規格中規定(ding)階差(cha)(cha)(cha)高(gao)度(du)(du)(du)(du)（H）不(bu)應(ying)大于0.3mm。
基準端面的(de)彎曲
引導(dao)游標(biao)尺滑(hua)動的尺面如果有彎曲，會導(dao)致如下(xia)圖所示的誤差，這一(yi)誤差可以用與不符合阿貝原理的誤差相同(tong)的計算(suan)公式來(lai)表示。
假設引導尺面彎曲引起的(de)變(bian)形為0.01mm/50mm，外徑量爪尖端為40mm來計(ji)算：
f＝40mm×0.01÷50＝0.008mm
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